Ir arriba
Información del artículo en conferencia

Cumulative stress by ion implantation of Xe+. Si: A Molecular Dynamics approach

A. Moreno Barrado, M. Castro

19th International Conference on Ion Implantation Technology - IIIT, Valladolid (España). 25-29 junio 2012


Fecha de publicación: 2012-06-25.



Cita:
A. Moreno Barrado, M. Castro, Cumulative stress by ion implantation of Xe+. Si: A Molecular Dynamics approach, 19th International Conference on Ion Implantation Technology - IIIT, Valladolid (España). 25-29 junio 2012.


    Líneas de investigación:
  • *Sistemas Mecánicos: Mecánica estructural, elementos de máquinas, prototipado rápido, metrología dimensional